陜西歐凱機電科技有限公司
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冷熱沖擊試驗箱
三箱式?jīng)_擊試驗箱
冷熱沖擊試驗箱根據(jù)待測試樣的狀態(tài)，分為兩箱式動態(tài)沖擊和三箱式靜態(tài)沖擊，既可作冷熱沖擊試驗，也可以做單獨高溫或單獨低溫使用。廣泛使用于航空航天、軍用、電工電子、儀器儀表、材料設(shè)備、汽車電子、零部配件等。模擬試件在大氣溫度急劇變化條件下產(chǎn)品的適應(yīng)性試驗及對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選等，也可通過冷熱沖擊試驗，進行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。
三箱式?jīng)_擊箱技術(shù)參數(shù)（標準型）
產(chǎn)品序號 | 型 號 | 工作室尺寸（mm） | 外形尺寸（mm） W×D×H（約） | 電源電壓/電流 （約） |
01 | TSD-50F-3P | 350×400×350 | 1390×1480×1810 | 380V/20.0A |
02 | TSD-80F-3P | 500×400×400 | 1540×1480×1850 | 380V/23.5A |
03 | TSD-100F-3P | 500×400×500 | 1540×1580×1950 | 380V/23.5A |
04 | TSD-150F-3P | 600×500×500 | 1640×1680×1950 | 380V/26.5A |
05 | TSD-252F-3P | 700×600×600 | 1740×1800×2050 | 380V/31.5A |
06 | TSD-480F-3P | 800×600×850 | 1840×2100×2180 | 380V/35.0A |
溫度
| 高溫室 | RT~180℃（按要求） | ||
低溫室 | RT~-70℃（按要求） | |||
測試區(qū)溫度 | -40、-50、-60℃~120、150℃ （按要求選定） | |||
溫度波動度≤±0.5℃ | 溫度均勻度≤±2℃ | 噪音（dB）≤65 | ||
升降溫速率 | 升溫約 | 60min/ RT~180℃ | ||
降溫約 | 60min/ 0~-70℃ | |||
試驗方式 | 溫度轉(zhuǎn)換 | 氣動風門切換，換氣式 | ||
氣門切換時間 | ≤5S | |||
溫度恢復時間 | ≤5min | |||
制冷 | 制冷機 | 法國全封閉泰康壓縮機復疊制冷（或半封閉谷輪或德國比澤爾） | ||
制冷劑 | 復疊二級 (無氟CFC-free) | |||
冷卻 | 風冷 (或水冷) | |||
傳感器 | 溫度 | A級鉑金電阻（PT100） | ||
濕度 | A級鉑金電阻（PT100） | |||
箱體材質(zhì) | 工作室 | # 304鏡面不銹鋼（1.2mm） | ||
外箱體 | 冷軋鋼板靜電噴涂 (1.5mm) | |||
保溫 | 聚氨酯+超細玻璃纖維（-50℃以下110mm） | |||
控制 | 原裝進口觸摸屏溫控儀表，操作簡單，設(shè)定方便，控制解析精度0.01℃，超出1200段編程 | |||
加熱器 | 鰭片式不銹鋼加熱系統(tǒng) | |||
蒸發(fā)器 | 高效能熱交換器 | |||
注明 | 非標特殊要求可定做（因我們的產(chǎn)品在不斷升級，參數(shù)會更新，請與我們確認） | |||
說明：本網(wǎng)站所列參數(shù)及配置為標準配置，具體要求以技術(shù)協(xié)議為準。
主要特點
? 測試樣品一直處于靜止狀態(tài)，減少對樣品的機械沖擊，其溫度轉(zhuǎn)換通過氣動系統(tǒng)打開(或關(guān)閉)不同風門來實現(xiàn)，帶測試孔，可帶電，帶信號，帶氣源測試。
? 新一代外觀設(shè)計，箱體結(jié)構(gòu)、制冷系統(tǒng)、控制技術(shù)均做較大改進，技術(shù)指標更加穩(wěn)定，運行更可靠，維護更方便，備有高檔萬向滾輪，方便在實驗內(nèi)移動。
? 彩色超大觸摸屏操作，外觀更加簡潔大方，操作更加容易，設(shè)定值實際值實時顯示。
? 真空雙層（多層）玻璃：大視窗設(shè)計，飛利浦高亮度照明，加熱無霧氣。
? 接口：RS-232、USB接口輸出，可電腦連接打印。
? 可靠性高：關(guān)鍵配件選配著名品牌專業(yè)生產(chǎn)廠商，保證整機可靠性。
執(zhí)行標準及試驗方法
GB11158-2008高溫試驗箱技術(shù)條件
GB10589-2008低溫試驗箱技術(shù)條件
GB10592-2008高低溫試驗箱技術(shù)條件（溫度交變）
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗A:低溫(IEC60068-2-1:2007)
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗B:高溫(IEC60068-2-1:2007)
GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗N:溫度變化(IEC60068-2-14)
GJB150.3A-2009軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗
GJB150.4A-2009軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：低溫試驗
GJB150.5A-2009溫度沖擊試驗
GB/T2423.22-2001（IEC68-2-27）溫度沖擊試驗方法
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